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半导体测试仪,电光Q开关,TEC温度控制器,激光光源
长春艾克思科技有限责任公司
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DI-1nS可以测试反向恢复时间小于350nS的信号二极管,精度0.1nS,尤其擅长测试反向恢复时间小于6nS的高速信号二极管。仪器采用恒流工作模式和脉冲恒流工作模式,测试二极管反向恢复时间稳定**。 一:主要特点 A:测量高速信号二极管 B:二极管正向电
本RECT-1200A型整流器测试仪可用于多种需要测试器件Vce-Ic的特性场合。
可用于多种需要测试器件Vce-Ic的特性场合。可以测量大功率二极管、大功率场效应管、大功率IGBT、大功率双极型晶体管和低阻值电阻等常用器件的VI特性测试
DI-1000D是在DI-1000的基础上进一步改进的二极管反向恢复测试仪,相比较DI-1000,其另配电脑和示波器。
DI-200型高精度二极管反向恢复时间测试仪,满足国家标准:GB/T 8024-2010,使用矩形波法测试反向恢复时间。
DIV-30KV型高压二极管反向耐压测试仪,高压模块**固态、无火花,开关干扰小可调范围大,适应性强,输出电压高
DF-10A型二极管正向压降测试仪是**为测量二极管正向压降而设计。它采用四线测量法,避免了线上过大压降导致的数据偏差。适合常用二极管的正向压降测量。在诸如开关电源研发等场合,它将是必不可少的测量仪器。
DF-80A型IGBT并联均流测试仪是**为测量二极管正向压降而设计。它采用四线测量法,避免了线上过大压降导致的数据偏差,适合大功率二极管的正向压降测量。